Arşiv logosu
  • Türkçe
  • English
  • Giriş
    Yeni kullanıcı mısınız? Kayıt için tıklayın. Şifrenizi mi unuttunuz?
Arşiv logosu
  • Koleksiyonlar
  • Sistem İçeriği
  • Analiz
  • Talep/Soru
  • Türkçe
  • English
  • Giriş
    Yeni kullanıcı mısınız? Kayıt için tıklayın. Şifrenizi mi unuttunuz?
  1. Ana Sayfa
  2. Yazara Göre Listele

Yazar "Oztas, M." seçeneğine göre listele

Listeleniyor 1 - 1 / 1
Sayfa Başına Sonuç
Sıralama seçenekleri
  • Küçük Resim Yok
    Öğe
    Influence of the annealing conditions on the properties of InP thin films
    (ELSEVIER SCIENCE SA, 2006) Oztas, M.; Bedir, M.; Kayali, R.; Aksoy, F.
    InP thin films were prepared on glass substrates by the spray pyrolysis technique. Results on structural, optical and electrical properties of the layers as a function of the thermal annealing are reported. XRD data indicates that samples show microstructural perfection improvement as a function of annealing time. The optical band-gap shows a dependence with the inverse of the squared crystallite size, suggesting that electron confinement has some effect. The lattice parameter and band-gap energy (BGE) of the samples annealed at 450 degrees C for 160 min (20-40-80-120-160-200) correspond to the reported values of InP thin films. In addition, the electrical resistivity measurement shows a slight decrease when annealing time is increased up to 80 min but it saturates annealing times between 80 and 160 min. Then it is slightly increased for larger times. (c) 2006 Elsevier B.V All rights reserved.

| Niğde Ömer Halisdemir Üniversitesi | Kütüphane | Açık Erişim Politikası | Rehber | OAI-PMH |

Bu site Creative Commons Alıntı-Gayri Ticari-Türetilemez 4.0 Uluslararası Lisansı ile korunmaktadır.


Merkez Yerleşke Bor Yolu 51240, Niğde, TÜRKİYE
İçerikte herhangi bir hata görürseniz lütfen bize bildirin

DSpace 7.6.1, Powered by İdeal DSpace

DSpace yazılımı telif hakkı © 2002-2025 LYRASIS

  • Çerez Ayarları
  • Gizlilik Politikası
  • Son Kullanıcı Sözleşmesi
  • Geri Bildirim